文献
J-GLOBAL ID:201002203653163690
整理番号:10A1032276
MEMS応用のためRFスパッタリングでステンレス鋼とシリコン基板上に蒸着したNbドープPb(Zr,Ti)O3膜のキャラクタリゼーション
Characterization of Nb-doped Pb(Zr,Ti)O3 films deposited on stainless steel and silicon substrates by RF-magnetron sputtering for MEMS applications
著者 (4件):
FUJII Takamichi
(FUJIFILM CORPORATION, 577 Ushijima, Kaisei-machi, Ashigarakami-gun, Kanagawa 258-8577, JPN)
,
HISHINUMA Yoshikazu
(FUJIFILM CORPORATION, 577 Ushijima, Kaisei-machi, Ashigarakami-gun, Kanagawa 258-8577, JPN)
,
MITA Tsuyoshi
(FUJIFILM CORPORATION, 577 Ushijima, Kaisei-machi, Ashigarakami-gun, Kanagawa 258-8577, JPN)
,
NAONO Takayuki
(FUJIFILM CORPORATION, 577 Ushijima, Kaisei-machi, Ashigarakami-gun, Kanagawa 258-8577, JPN)
資料名:
Sensors and Actuators. A. Physical
(Sensors and Actuators. A. Physical)
巻:
163
号:
1
ページ:
220-225
発行年:
2010年09月
JST資料番号:
B0345C
ISSN:
0924-4247
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)