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文献
J-GLOBAL ID:201002204598505184   整理番号:10A0106297

光学的手法による表面形状の高解像度・広範囲測定システムの開発

著者 (2件):
上月具挙
(広島国際大 工)
上田正紘
(福井大 教育地域科学)

資料名:
日本設計工学会研究発表講演会講演論文集  (日本設計工学会大会研究発表講演会講演論文集)

巻: 2009  号: 秋季  ページ: 119-122  発行年: 2009年 
JST資料番号: S0899A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 短報  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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