文献
J-GLOBAL ID:201002210726890010
整理番号:10A0362078
100アンペア(A)以上で動作する高い絶縁破壊電圧を持つSi基板上のノーマリーオフAlGaN/GaNハイブリッドMOS-FET
Over 100A operation normally-off AlGaN/GaN hybrid MOS-HFET on Si substrate with high-breakdown voltage
著者 (7件):
KAMBAYASHI Hiroshi
(Advanced Power Device Res. Assoc., 2-4-3 Okano, Nishi-ku, Yokohama 220-0073, JPN)
,
SATOH Yoshihiro
(Advanced Power Device Res. Assoc., 2-4-3 Okano, Nishi-ku, Yokohama 220-0073, JPN)
,
OOTOMO Shinya
(Yokohama R&D Laboratories, Furukawa Electric Co., Ltd., 2-4-3 Okano, Nishi-ku, Yokohama 220-0073, JPN)
,
KOKAWA Takuya
(Advanced Power Device Res. Assoc., 2-4-3 Okano, Nishi-ku, Yokohama 220-0073, JPN)
,
NOMURA Takehiko
(Advanced Power Device Res. Assoc., 2-4-3 Okano, Nishi-ku, Yokohama 220-0073, JPN)
,
KATO Sadahiro
(Advanced Power Device Res. Assoc., 2-4-3 Okano, Nishi-ku, Yokohama 220-0073, JPN)
,
CHOW Tat-sing Pawl
(The Center for Integrated Electronics, Rensselaer Polytechnic Inst., Troy, NY 12180, USA)
資料名:
Solid-State Electronics
(Solid-State Electronics)
巻:
54
号:
6
ページ:
660-664
発行年:
2010年06月
JST資料番号:
H0225A
ISSN:
0038-1101
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)