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文献
J-GLOBAL ID:201002210726890010   整理番号:10A0362078

100アンペア(A)以上で動作する高い絶縁破壊電圧を持つSi基板上のノーマリーオフAlGaN/GaNハイブリッドMOS-FET

Over 100A operation normally-off AlGaN/GaN hybrid MOS-HFET on Si substrate with high-breakdown voltage
著者 (7件):
KAMBAYASHI Hiroshi
(Advanced Power Device Res. Assoc., 2-4-3 Okano, Nishi-ku, Yokohama 220-0073, JPN)
SATOH Yoshihiro
(Advanced Power Device Res. Assoc., 2-4-3 Okano, Nishi-ku, Yokohama 220-0073, JPN)
OOTOMO Shinya
(Yokohama R&D Laboratories, Furukawa Electric Co., Ltd., 2-4-3 Okano, Nishi-ku, Yokohama 220-0073, JPN)
KOKAWA Takuya
(Advanced Power Device Res. Assoc., 2-4-3 Okano, Nishi-ku, Yokohama 220-0073, JPN)
NOMURA Takehiko
(Advanced Power Device Res. Assoc., 2-4-3 Okano, Nishi-ku, Yokohama 220-0073, JPN)
KATO Sadahiro
(Advanced Power Device Res. Assoc., 2-4-3 Okano, Nishi-ku, Yokohama 220-0073, JPN)
CHOW Tat-sing Pawl
(The Center for Integrated Electronics, Rensselaer Polytechnic Inst., Troy, NY 12180, USA)

資料名:
Solid-State Electronics  (Solid-State Electronics)

巻: 54  号:ページ: 660-664  発行年: 2010年06月 
JST資料番号: H0225A  ISSN: 0038-1101  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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