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文献
J-GLOBAL ID：201002214759089939
整理番号：10A0955531
標準CMOS技術における集積ISFET計測システム
An Integrated ISFETs Instrumentation System in Standard CMOS Technology
CHAN Wai Pan
(Imperial Coll. London, London, GBR)
,
PREMANODE Bhusana
(Imperial Coll. London, London, GBR)
,
TOUMAZOU Christofer
(Imperial Coll. London, London, GBR)
資料名：
IEEE Journal of Solid-State Circuits
(IEEE Journal of Solid-State Circuits)
巻： 45 号： 9 ページ： 1923-1934 発行年： 2010年09月
JST資料番号： B0761A ISSN： 0018-9200 CODEN： IJSCBC 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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