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文献
J-GLOBAL ID：201002219398686980
整理番号：10A1070069
時間飛行二次イオン質量分析法による分子表面の研究
Investigation of molecular surfaces with time-of-flight secondary ion mass spectrometry
AOYAGI Satoka
(Shimane Univ., Shimane, JPN)
,
NAMEKAWA Koki
(Waseda Univ., Tokyo, JPN)
,
YAMAMOTO Kenichiro
(Waseda Univ., Tokyo, JPN)
,
SAKAI Kiyotaka
(Waseda Univ., Tokyo, JPN)
,
KATO Nobuhiko
(Seikei Univ., Tokyo, JPN)
,
KUDO Masahiro
(Seikei Univ., Tokyo, JPN)
資料名：
Surface and Interface Analysis
(Surface and Interface Analysis)
巻： 42 号： 10/11 ページ： 1593-1597 発行年： 2010年10月
JST資料番号： E0709A ISSN： 0142-2421 CODEN： SIANDQ 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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