文献
J-GLOBAL ID:201002220339257038
整理番号:10A1321003
プロセス感度低減と歩留まり改善のための回路自動調整技法
Automatic Circuit Adjustment Technique for Process Sensitivity Reduction and Yield Improvement
著者 (4件):
LI Hsiu-Wen
(National Central Univ., TWN)
,
FU Ren-Hong
(National Central Univ., TWN)
,
LUO Hsin-Yu
(National Central Univ., TWN)
,
LIU Chien-Nan Jimmy
(National Central Univ., TWN)
資料名:
IEEE International Symposium on Circuits and Systems
(IEEE International Symposium on Circuits and Systems)
巻:
2010 Vol.4
ページ:
2582-2585
発行年:
2010年
JST資料番号:
A0757A
ISSN:
0271-4302
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)