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文献
J-GLOBAL ID:201002221488680314   整理番号:10A0924536

NBTIとAHTOL試験により生じたVTとVmin挙動の特性評価による成熟したプロセス可能性と製造性

MATURE PROCESSABILITY AND MANUFACTURABILITY BY CHARACTERIZING VT AND VMIN BEHAVIORS INDUCED BY NBTI AND AHTOL TEST
著者 (9件):
PARK Jongwoo
(Samsung Electronics, Gyeonggi-Do, KOR)
HA Sungmok
(Samsung Electronics, Gyeonggi-Do, KOR)
LIM Sunme
(Samsung Electronics, Gyeonggi-Do, KOR)
YOO Jae-Yoon
(Samsung Electronics, Gyeonggi-Do, KOR)
PARK Junkyun
(Samsung Electronics, Gyeonggi-Do, KOR)
BAE Kidan
(Samsung Electronics, Gyeonggi-Do, KOR)
KIM Gunrae
(Samsung Electronics, Gyeonggi-Do, KOR)
KIM Min
(Samsung Electronics, Gyeonggi-Do, KOR)
KIM Yongshik
(Samsung Electronics, Gyeonggi-Do, KOR)

資料名:
Annual Proceedings. IEEE International Reliability Physics Symposium  (Annual Proceedings. IEEE International Reliability Physics Symposium)

巻: 2010 Vol.1  ページ: 104-110  発行年: 2010年 
JST資料番号: A0631A  ISSN: 1541-7026  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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