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文献
J-GLOBAL ID:201002226833928989   整理番号:10A0639559

高分子基盤に蒸着したナノスケールPt薄膜の弾性率のしわベース測定 検証および不確実性解析

Wrinkle-Based Measurement of Elastic Modulus of Nano-Scale Thin Pt Film Deposited on Polymeric Substrate: Verification and Uncertainty Analysis
著者 (7件):
CHOI H-J.
(Korea Inst. Machinery and Materials, Daejeon, KOR)
KIM J-H.
(Korea Inst. Machinery and Materials, Daejeon, KOR)
LEE H-J.
(Korea Inst. Machinery and Materials, Daejeon, KOR)
SONG S-A.
(Korea Inst. Machinery and Materials, Daejeon, KOR)
LEE H-J.
(Korea Inst. Machinery and Materials, Daejeon, KOR)
HAN J-H.
(Korea Inst. Sci. and Technol., Seoul, KOR)
MOON M-W.
(Korea Inst. Sci. and Technol., Seoul, KOR)

資料名:
Experimental Mechanics  (Experimental Mechanics)

巻: 50  号:ページ: 635-641  発行年: 2010年06月 
JST資料番号: D0405A  ISSN: 0014-4851  CODEN: EXMCA  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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