文献
J-GLOBAL ID:201002226833928989
整理番号:10A0639559
高分子基盤に蒸着したナノスケールPt薄膜の弾性率のしわベース測定 検証および不確実性解析
Wrinkle-Based Measurement of Elastic Modulus of Nano-Scale Thin Pt Film Deposited on Polymeric Substrate: Verification and Uncertainty Analysis
著者 (7件):
CHOI H-J.
(Korea Inst. Machinery and Materials, Daejeon, KOR)
,
KIM J-H.
(Korea Inst. Machinery and Materials, Daejeon, KOR)
,
LEE H-J.
(Korea Inst. Machinery and Materials, Daejeon, KOR)
,
SONG S-A.
(Korea Inst. Machinery and Materials, Daejeon, KOR)
,
LEE H-J.
(Korea Inst. Machinery and Materials, Daejeon, KOR)
,
HAN J-H.
(Korea Inst. Sci. and Technol., Seoul, KOR)
,
MOON M-W.
(Korea Inst. Sci. and Technol., Seoul, KOR)
資料名:
Experimental Mechanics
(Experimental Mechanics)
巻:
50
号:
5
ページ:
635-641
発行年:
2010年06月
JST資料番号:
D0405A
ISSN:
0014-4851
CODEN:
EXMCA
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)