文献
J-GLOBAL ID:201002227384028443
整理番号:10A0322179
InGaN発光ダイオードにおけるドループ:微分キャリア寿命分析
Droop in InGaN light-emitting diodes: A differential carrier lifetime analysis
著者 (2件):
DAVID Aurelien
(Philips Lumileds Lighting Co., 370 W. Trimble Rd., San Jose, California 95131, USA)
,
GRUNDMANN Michael J.
(Philips Lumileds Lighting Co., 370 W. Trimble Rd., San Jose, California 95131, USA)
資料名:
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻:
96
号:
10
ページ:
103504
発行年:
2010年03月08日
JST資料番号:
H0613A
ISSN:
0003-6951
CODEN:
APPLAB
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)