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文献
J-GLOBAL ID：201002227394750660
整理番号：10A1324539
薄膜の熱伝導率と界面熱伝導を測定するための超高速サーモリフレクタンス法
Ultrafast thermoreflectance techniques for measuring thermal conductivity and interface thermal conductance of thin films
ZHU Jie
(Dep. of Mechanical Engineering, Univ. of Colorado at Boulder, Colorado 80309, USA)
,
TANG Dawei
(Inst. of Engineering Thermophysics, Chinese Acad. of Sciences, Beijing 100190, CHN)
,
WANG Wei
(Dep. of Mechanical Engineering, Univ. of Colorado at Boulder, Colorado 80309, USA)
,
LIU Jun
(Dep. of Mechanical Engineering, Univ. of Colorado at Boulder, Colorado 80309, USA)
,
HOLUB Kristopher W.
(Dep. of Mechanical Engineering, Univ. of Colorado at Boulder, Colorado 80309, USA)
,
YANG Ronggui
(Dep. of Mechanical Engineering, Univ. of Colorado at Boulder, Colorado 80309, USA)
資料名：
Journal of Applied Physics
(Journal of Applied Physics)
巻： 108 号： 9 ページ： 094315 発行年： 2010年11月01日
JST資料番号： C0266A ISSN： 0021-8979 CODEN： JAPIAU 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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