文献
J-GLOBAL ID:201002230929663266
整理番号:10A0557833
フィールドプログラマブルゲートアレイにおける耐故障性と信頼性
Fault tolerance and reliability in field-programmable gate arrays
著者 (3件):
STOTT E.
(Imperial Coll., London, GBR)
,
SEDCOLE P.
(Imperial Coll., London, GBR)
,
CHEUNG P.
(Imperial Coll., London, GBR)
資料名:
IET Computers & Digital Techniques
(IET Computers & Digital Techniques)
巻:
4
号:
3
ページ:
196-210
発行年:
2010年05月
JST資料番号:
H0155D
ISSN:
1751-8601
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
解説
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)