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文献
J-GLOBAL ID:201002231347064720   整理番号:10A0449229

X線/中性子反射率測定によるLiFePO4エピタキシャル薄膜の表面キャラクタリゼーション

Surface Characterization of LiFePO4 Epitaxial Thin Films by X-ray/Neutron Reflectometry
著者 (8件):
HIRAYAMA Masaaki
(Tokyo Inst. of Technol., Yokohama, JPN)
YONEMURA Masao
(Ibaraki Univ., Ibaraki, JPN)
SUZUKI Kouta
(Tokyo Inst. of Technol., Yokohama, JPN)
TORIKAI Naoya
(Mie Univ., Mie, JPN)
SMITH Hillary
(Los Alamos National Lab., NM, USA)
WATKINSAND Erik
(Los Alamos National Lab., NM, USA)
MAJEWSKI Jarek
(Los Alamos National Lab., NM, USA)
KANNO Ryoji
(Tokyo Inst. of Technol., Yokohama, JPN)

資料名:
電気化学および工業物理化学  (Electrochemistry)

巻: 78  号:ページ: 413-415  発行年: 2010年05月05日 
JST資料番号: G0072A  ISSN: 1344-3542  CODEN: EECTFA  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 短報  発行国: 日本 (JPN)  言語: 英語 (EN)
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