文献
J-GLOBAL ID:201002235124789737
整理番号:10A0510188
シリコンのヤング率とは何か?
What is the Young’s Modulus of Silicon?
著者 (3件):
HOPCROFT Matthew A.
(Univ. California at Berkeley, CA, USA)
,
NIX William D.
(Stanford Univ., CA, USA)
,
KENNY Thomas W.
(Stanford Univ., CA, USA)
資料名:
Journal of Microelectromechanical Systems
(Journal of Microelectromechanical Systems)
巻:
19
号:
2
ページ:
229-238
発行年:
2010年04月
JST資料番号:
W0357A
ISSN:
1057-7157
CODEN:
JMIYET
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)