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文献
J-GLOBAL ID：201002236946451521
整理番号：10A0944475
アンチゴライト格子優先配向(LPO)の電子後方散乱回折(EBSD)測定
Electron back-scattering diffraction (EBSD) measurements of antigorite lattice-preferred orientations (LPO)
VAN DE MOORTELE B.
(Univ. Lyon, Lyon, FRA)
,
BEZACIER L.
(Univ. Lyon, Lyon, FRA)
,
TRULLENQUE G.
(Oxford Instruments GmbH, Wiesbaden, DEU)
,
REYNARD B.
(Univ. Lyon, Lyon, FRA)
資料名：
Journal of Microscopy
(Journal of Microscopy)
巻： 239 号： 3 ページ： 245-248 発行年： 2010年09月
JST資料番号： B0454B ISSN： 0022-2720 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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