文献
J-GLOBAL ID:201002238915573753
整理番号:10A0134450
六角形a-Si:H TFTの電気的安定性
Electrical Stability of Hexagonal a-Si:H TFTs
著者 (3件):
YOO Geonwook
(Univ. Michigan, MI, USA)
,
LEE Hojin
(Univ. Michigan, MI, USA)
,
KANICKI Jerzy
(Univ. Michigan, MI, USA)
資料名:
IEEE Electron Device Letters
(IEEE Electron Device Letters)
巻:
31
号:
1
ページ:
53-55
発行年:
2010年01月
JST資料番号:
B0344B
ISSN:
0741-3106
CODEN:
EDLEDZ
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)