文献
J-GLOBAL ID:201002240922810749
整理番号:10A0937228
宇宙向け商業用の65nmCMOS技術:重イオン,陽子およびγ線試験結果とモデリング
A Commercial 65nm CMOS Technology for Space Applications: Heavy Ion, Proton and Gamma Test Results and Modeling
著者 (7件):
ROCHE Philippe
(STMicroelectronics, Crolles, FRA)
,
GASIOT Gilles
(STMicroelectronics, Crolles, FRA)
,
UZNANSKI Slawosz
(STMicroelectronics, Crolles, FRA)
,
DAVEAU Jean-Marc
(STMicroelectronics, Crolles, FRA)
,
TORRAS-FLAQUER Josep
(STMicroelectronics, Crolles, FRA)
,
CLERC Sylvain
(STMicroelectronics, Crolles, FRA)
,
HARBOE-SORENSEN Reno
(European Space Agency, Noordwijk, NLD)
資料名:
IEEE Transactions on Nuclear Science
(IEEE Transactions on Nuclear Science)
巻:
57
号:
4,Pt.1
ページ:
2079-2088
発行年:
2010年08月
JST資料番号:
C0235A
ISSN:
0018-9499
CODEN:
IETNAE
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)