文献
J-GLOBAL ID:201002241936010687
整理番号:10A0659169
位相測定に基づく形状測定におけるπ-シフト奇数ステップフリンジ投影とスペックルフィルタリングによる位相誤差補正
Phase error correction by π-shift odd-step fringe projection and speckle filtering in phase measuring profilometry
著者 (4件):
WU Shuangqing
(Zhejiang Univ., Hangzhou, CHN)
,
ZHANG Sanyuan
(Zhejiang Univ., Hangzhou, CHN)
,
ZHANG Yin
(Zhejiang Univ., Hangzhou, CHN)
,
YE Xiuzi
(Zhejiang Univ., Hangzhou, CHN)
資料名:
Optical Engineering
(Optical Engineering)
巻:
49
号:
4
ページ:
043603.1-043603.6
発行年:
2010年04月
JST資料番号:
B0577B
ISSN:
0091-3286
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)