文献
J-GLOBAL ID:201002242860816373
整理番号:10A0339972
ナノパターンの厚さを測定するためにAFMによるナノ作製法を利用する ω-官能化n-アルカンチオールの垂直自己集合における頭基の役割
Applying AFM-Based Nanofabrication for Measuring the Thickness of Nanopatterns: The Role of Head Groups in the Vertical Self-Assembly of ω-Functionalized n-Alkanethiols
著者 (7件):
KELLEY Algernon T.
(Louisiana State Univ., Louisiana)
,
NGUNJIRI Johnpeter N.
(Louisiana State Univ., Louisiana)
,
SEREM Wilson K.
(Louisiana State Univ., Louisiana)
,
LAWRENCE Steve O.
(Louisiana State Univ., Louisiana)
,
YU Jing-Jiang
(Agilent Technol., Inc., Arizona)
,
CROWE William E.
(Louisiana State Univ., Louisiana)
,
GARNO Jayne C.
(Louisiana State Univ., Louisiana)
資料名:
Langmuir
(Langmuir)
巻:
26
号:
5
ページ:
3040-3049
発行年:
2010年03月02日
JST資料番号:
A0231B
ISSN:
0743-7463
CODEN:
LANGD5
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)