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文献
J-GLOBAL ID:201002242987820043   整理番号:10A0754130

一軸性張力下でIBAD基板に重ね接合コーティングされた導体テープの臨界電流低減挙動

Critical Current Degradation Behavior in Lap-Jointed Coated Conductor Tapes With IBAD Substrate Under Uniaxial Tension
著者 (3件):
SHIN Hyung-Seop
(Andong National Univ., Kyungbuk, KOR)
DEDICATORIA Marlon J.
(Andong National Univ., Kyungbuk, KOR)
OH Sang-Soo
(Korea Electrotechnology Res. Inst., Kyungnam, KOR)

資料名:
IEEE Transactions on Applied Superconductivity  (IEEE Transactions on Applied Superconductivity)

巻: 20  号:ページ: 1447-1450  発行年: 2010年06月 
JST資料番号: W0177A  ISSN: 1051-8223  CODEN: ITASE9  資料種別: 逐次刊行物 (A)
発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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