文献
J-GLOBAL ID:201002243048890400
整理番号:10A0389594
非晶質ゾルゲルTiO2膜の高密度化 X線反射率測定法による研究
Densification of amorphous sol-gel TiO2 films: An X-ray reflectometry study
著者 (2件):
VIVES Serge
(FEMTO-ST/ENISYS, Univ. de Franche-Comte, UMR 6174-CNRS, 4 place Tharradin BP 71427, 25211 Montbeliard Cedex, FRA)
,
MEUNIER Cathy
(FEMTO-ST/ENISYS, Univ. de Franche-Comte, UMR 6174-CNRS, 4 place Tharradin BP 71427, 25211 Montbeliard Cedex, FRA)
資料名:
Thin Solid Films
(Thin Solid Films)
巻:
518
号:
14
ページ:
3748-3753
発行年:
2010年05月03日
JST資料番号:
B0899A
ISSN:
0040-6090
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)