文献
J-GLOBAL ID:201002243409061438
整理番号:10A0713182
人工ニューラルネットワークを用いる電圧と温度を意識した統計的漏れ解析の枠組み
Voltage and Temperature Aware Statistical Leakage Analysis Framework Using Artificial Neural Networks
著者 (3件):
JANAKIRAMAN V.
(Indian Inst. Sci., Bangalore, IND)
,
BHARADWAJ Amrutur
(Indian Inst. Sci., Bangalore, IND)
,
VISVANATHAN V.
(Texas Instruments, Bangalore, IND)
資料名:
IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems
(IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems)
巻:
29
号:
7
ページ:
1056-1069
発行年:
2010年07月
JST資料番号:
B0142C
ISSN:
0278-0070
CODEN:
ITCSDI
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)