文献
J-GLOBAL ID:201002246126876957
整理番号:10A1125327
JETでのビームプロファイルモニタを用いたLiビームプローブの特性評価
Characterization of the Li beam probe with a beam profile monitor on JET
著者 (6件):
NEDZELSKIY I. S.
(Instituto de Plasma e Fusao Nuclear, Instituto Superior Tecnico, Associacao EURATOM/IST, 1049-001 Lisboa, PRT)
,
KOROTKOV A.
(JET-EFDA, CCFE, Culham Sci. Centre, Abingdon OX14 3DB, GBR)
,
BRIX M.
(JET-EFDA, CCFE, Culham Sci. Centre, Abingdon OX14 3DB, GBR)
,
MORGAN P.
(JET-EFDA, CCFE, Culham Sci. Centre, Abingdon OX14 3DB, GBR)
,
VINCE J.
(JET-EFDA, CCFE, Culham Sci. Centre, Abingdon OX14 3DB, GBR)
,
JET EFDA CONTRIBUTORS
(Instituto de Plasma e Fusao Nuclear, Instituto Superior Tecnico, Associacao EURATOM/IST, 1049-001 Lisboa, PRT)
資料名:
Review of Scientific Instruments
(Review of Scientific Instruments)
巻:
81
号:
10
ページ:
10D734
発行年:
2010年10月
JST資料番号:
D0517A
ISSN:
0034-6748
CODEN:
RSINAK
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)