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文献
J-GLOBAL ID：201002249179642884
整理番号：10A0533767
製造中における不良丸剤のマルチスケール検出の優位
Advantages of Multiscale Detection of Defective Pills during Manufacturing
DOUGLAS Craig C.
(Univ. Wyoming, WY, USA)
,
DENG Li
(JSOL Corp., Tokyo, JPN)
,
EFENDIEV Yalchin
(Texas A&M Univ., TX, USA)
,
HAASE Gundolf
(Karl-Franzens Univ. Graz, Graz, AUT)
,
KUCHER Andreas
(Karl-Franzens Univ. Graz, Graz, AUT)
,
LODDER Robert
(Univ. Kentucky, KY, USA)
,
QIN Guan
(Univ. Wyoming, WY, USA)
資料名：
Lecture Notes in Computer Science
(Lecture Notes in Computer Science)
巻： 5938 ページ： 8-16 発行年： 2010年
JST資料番号： H0078D ISSN： 0302-9743 資料種別： 会議録 (C)
発行国： ドイツ (DEU) 言語： 英語 (EN)
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