文献
J-GLOBAL ID:201002249311232526
整理番号:10A1127518
ナノスケールエピタキシャル横方向被覆成長によるサファイア上のInGaNベースエピ層の結晶品質の改善
Improvement in Crystalline Quality of InGaN-Based Epilayer on Sapphire via Nanoscaled Epitaxial Lateral Overgrowth
著者 (9件):
CHIU Ching-Hsueh
(National Chiao Tung Univ., Hsinchu, TWN)
,
LIN Da-Wei
(National Chiao Tung Univ., Hsinchu, TWN)
,
LI Zhen-Yu
(National Chiao Tung Univ., Hsinchu, TWN)
,
CHIU Chin-Hua
(National Chiao Tung Univ., Hsinchu, TWN)
,
CHAO Chu-Li
(National Chiao Tung Univ., Hsinchu, TWN)
,
TU Chia-Cheng
(Chung Yuan Christian Univ., Chungli, TWN)
,
KUO Hao-Chung
(National Chiao Tung Univ., Hsinchu, TWN)
,
LU Tien-Chang
(National Chiao Tung Univ., Hsinchu, TWN)
,
WANG Shing-Chung
(National Chiao Tung Univ., Hsinchu, TWN)
資料名:
Japanese Journal of Applied Physics
(Japanese Journal of Applied Physics)
巻:
49
号:
10
ページ:
105501.1-105501.5
発行年:
2010年10月25日
JST資料番号:
G0520B
ISSN:
0021-4922
CODEN:
JJAPB6
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)