前のページに戻る
この文献は全文を取り寄せることができます
JDreamⅢ複写サービスから文献全文の複写（冊子体のコピー）をお申込みできます。
ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です。
ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です。
既に、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDをお持ちの方
JDreamⅢ複写サービスのご利用が初めての方
取り寄せる文献のタイトルと詳細
文献
J-GLOBAL ID：201002250005598132
整理番号：10A0823367
三次元回折プロファイル分析を用いて決定したエピタキシャルSrTiO3/Si(001)の形態
Morphology of epitaxial SrTiO3/Si (001) determined using three-dimensional diffraction profile analysis
SEGAL Y.
(Dep. of Applied Physics and Center for Interface Structure and Phenomena, Yale Univ., New Haven Connecticut 06520-8284)
,
REINER J. W.
(Dep. of Applied Physics and Center for Interface Structure and Phenomena, Yale Univ., New Haven Connecticut 06520-8284)
,
ZHANG Z.
(Advanced Photon Source, Argonne National Lab., 9700 South Cass Avenue, Argonne, Illinois 60439)
,
AHN C. H.
(Dep. of Applied Physics and Center for Interface Structure and Phenomena, Yale Univ., New Haven Connecticut ...)
,
WALKER F. J.
(Dep. of Applied Physics and Center for Interface Structure and Phenomena, Yale Univ., New Haven Connecticut 06520-8284)
資料名：
Journal of Vacuum Science & Technology. B. Nanotechnology and Microelectronics: Materials, Processing, Measurement, and Phenomena
(Journal of Vacuum Science & Technology. B. Nanotechnology and Microelectronics: Materials, Processing, Measurement, and Phenomena)
巻： 28 号： 4 ページ： C5B1 発行年： 2010年07月
JST資料番号： E0974A ISSN： 2166-2746 CODEN： JVTBD9 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
JDreamⅢ複写サービスとは
JDreamⅢ複写サービスは、学術文献の全文を複写（コピー）して取り寄せできる有料サービスです。インターネットに公開されていない文献や、図書館に収録されていない文献の全文を、オンラインで取り寄せることができます。J-GLOBALの整理番号にも対応しているので、申し込みも簡単にできます。全文の複写（コピー）は郵送またはFAXでお送りします
※ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です
※初めてご利用される方は、JDreamⅢ複写サービスのご案内をご覧ください。
※ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です
※初めてご利用される方は、JDreamⅢ複写サービスのご案内をご覧ください。