文献
J-GLOBAL ID:201002250690720379
整理番号:10A0682218
高周波フロントエンドおよび高速I/Oインタフェイス回路用のESD保護ダイオードのレイアウトスタイルの最適化
Optimization on Layout Style of ESD Protection Diode for Radio-Frequency Front-End and High-Speed I/O Interface Circuits
著者 (5件):
YEH Chih-Ting
(National Chiao Tung Univ., Hsinchu, TWN)
,
YEH Chih-Ting
(Industrial Technol. Res. Inst., Hsinchu, TWN)
,
KER Ming-Dou
(National Chiao Tung Univ., Hsinchu, TWN)
,
KER Ming-Dou
(I-Shou Univ., Kaohsiung, TWN)
,
LIANG Yung-Chih
(Industrial Technol. Res. Inst., Hsinchu, TWN)
資料名:
IEEE Transactions on Device and Materials Reliability
(IEEE Transactions on Device and Materials Reliability)
巻:
10
号:
2
ページ:
238-246
発行年:
2010年06月
JST資料番号:
W1320A
ISSN:
1530-4388
CODEN:
ITDMA2
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)