文献
J-GLOBAL ID:201002250830033741
整理番号:10A0920667
(112)B HgCdTe/CdTe/Siにおける転位の特性調査
Characterization of Dislocations in (112)B HgCdTe/CdTe/Si
著者 (19件):
BENSON J.D.
(U.S. Army RDECOM, VA, USA)
,
BUBULAC L.O.
(U.S. Army RDECOM, VA, USA)
,
SMITH P.J.
(U.S. Army RDECOM, VA, USA)
,
JACOBS R.N.
(U.S. Army RDECOM, VA, USA)
,
MARKUNAS J.K.
(U.S. Army RDECOM, VA, USA)
,
JAIME-VASQUEZ M.
(U.S. Army RDECOM, VA, USA)
,
ALMEIDA L.A.
(U.S. Army RDECOM, VA, USA)
,
STOLTZ A.J.
(U.S. Army RDECOM, VA, USA)
,
WIJEWARNASURIYA P.S.
(U.S. Army Res. Lab., MD, USA)
,
BRILL G.
(U.S. Army Res. Lab., MD, USA)
,
CHEN Y.
(U.S. Army Res. Lab., MD, USA)
,
LEE U.
(U.S. Army Res. Lab., MD, USA)
,
VILELA M.F.
(Raytheon Vision Systems, CA, USA)
,
PETERSON J.
(Raytheon Vision Systems, CA, USA)
,
JOHNSON S.M.
(Raytheon Vision Systems, CA, USA)
,
LOFGREEN D.D.
(Raytheon Vision Systems, CA, USA)
,
RHIGER D.
(Raytheon Vision Systems, CA, USA)
,
PATTEN E.A.
(Raytheon Vision Systems, CA, USA)
,
GOETZ P.M.
(Raytheon Vision Systems, CA, USA)
資料名:
Journal of Electronic Materials
(Journal of Electronic Materials)
巻:
39
号:
7
ページ:
1080-1086
発行年:
2010年07月
JST資料番号:
D0277B
ISSN:
0361-5235
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)