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J-GLOBAL ID：201002252718166359 整理番号：10A0444849

時系列波形分類学習による低スペックセンサ信号からの状態判別

Detection of Abnormality by Using Waveform Time-series Classifiers on Low-Quality Sensor Data

著者 (3件)：

植野研

(東芝研究開発セシステム技術ラボラトリー)

PAUL Topon Kumar

(東芝研究開発セシステム技術ラボラトリー)

佐藤誠

(東芝研究開発セシステム技術ラボラトリー)

資料名：

電子情報通信学会技術研究報告 (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))

巻： 109 号： 473(SSS2009 30-36) ページ： 23-26 発行年： 2010年03月19日
JST資料番号： S0532B ISSN： 0913-5685 資料種別：会議録 (C)
記事区分：原著論文発行国：日本 (JPN) 言語：日本語 (JA)

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