文献
J-GLOBAL ID:201002253693334010
整理番号:10A0772301
トンネル電界効果トランジスタの異常なドレイン電流増加の調査
Investigation of Abnormal Drain Current Increase of Tunneling Field-Effect Transistors
著者 (2件):
LEE Min Jin
(Sogang Univ., Seoul, KOR)
,
CHOI Woo Young
(Sogang Univ., Seoul, KOR)
資料名:
電子情報通信学会技術研究報告
(IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻:
110
号:
110(SDM2010 49-123)
ページ:
55-56
発行年:
2010年06月23日
JST資料番号:
S0532B
ISSN:
0913-5685
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
短報
発行国:
日本 (JPN)
言語:
英語 (EN)