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文献
J-GLOBAL ID：201002254810002675
整理番号：10A1010922
低温TEM観察における回折モード-デフォーカスイメージングによる自動試料探索
Automated specimen search in cryo-TEM observation with DIFF-defocus imaging
NAKAMURA Natsuko
(JEOL Ltd., Tokyo, JPN)
,
SHIMIZU Yuko
(JEOL Ltd., Tokyo, JPN)
,
SHINKAWA Takao
(JEOL Ltd., Tokyo, JPN)
,
NAKATA Munetaka
(Tokyo Univ. Agriculture and Technol., Tokyo, JPN)
,
BAMMES Benjamin
(Baylor Coll. Medicine, TX, USA)
,
ZHANG Junjie
(Baylor Coll. Medicine, TX, USA)
,
CHIU Wah
(Baylor Coll. Medicine, TX, USA)
資料名：
Journal of Electron Microscopy
(Journal of Electron Microscopy)
巻： 59 号： 4 ページ： 299-310 発行年： 2010年08月
JST資料番号： W1384A ISSN： 0022-0744 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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