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文献
J-GLOBAL ID:201002254810002675   整理番号:10A1010922

低温TEM観察における回折モード-デフォーカスイメージングによる自動試料探索

Automated specimen search in cryo-TEM observation with DIFF-defocus imaging
著者 (7件):
NAKAMURA Natsuko
(JEOL Ltd., Tokyo, JPN)
SHIMIZU Yuko
(JEOL Ltd., Tokyo, JPN)
SHINKAWA Takao
(JEOL Ltd., Tokyo, JPN)
NAKATA Munetaka
(Tokyo Univ. Agriculture and Technol., Tokyo, JPN)
BAMMES Benjamin
(Baylor Coll. Medicine, TX, USA)
ZHANG Junjie
(Baylor Coll. Medicine, TX, USA)
CHIU Wah
(Baylor Coll. Medicine, TX, USA)

資料名:
Journal of Electron Microscopy  (Journal of Electron Microscopy)

巻: 59  号:ページ: 299-310  発行年: 2010年08月 
JST資料番号: W1384A  ISSN: 0022-0744  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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