文献
J-GLOBAL ID:201002255108124629
整理番号:10A0470926
SiC上に懸架したグラフェンの接触コンダクタンス測定
Contact Conductance Measurement of Locally Suspended Graphene on SiC
著者 (4件):
NAGASE Masao
(Nippon Telegraph and Telephone Corp., Kanagawa, JPN)
,
HIBINO Hiroki
(Nippon Telegraph and Telephone Corp., Kanagawa, JPN)
,
KAGESHIMA Hiroyuki
(Nippon Telegraph and Telephone Corp., Kanagawa, JPN)
,
YAMAGUCHI Hiroshi
(Nippon Telegraph and Telephone Corp., Kanagawa, JPN)
資料名:
Applied Physics Express
(Applied Physics Express)
巻:
3
号:
4
ページ:
045101.1-045101.3
発行年:
2010年04月25日
JST資料番号:
F0599C
ISSN:
1882-0778
CODEN:
APEPC4
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)