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文献
J-GLOBAL ID：201002255657350088
整理番号：10A0134504
GaN系LEDの信頼性を制限する物理的機構に関する概説
A Review on the Physical Mechanisms That Limit the Reliability of GaN-Based LEDs
MENEGHINI Matteo
(Univ. Padova, Padova, ITA)
,
TAZZOLI Augusto
(Univ. Padova, Padova, ITA)
,
MURA Giovanna
(Univ. Padova, Padova, ITA)
,
MENEGHESSO Gaudenzio
(Telemicroscopy Lab., Pula, ITA)
,
ZANONI Enrico
(Univ. Padova, Padova, ITA)
資料名：
IEEE Transactions on Electron Devices
(IEEE Transactions on Electron Devices)
巻： 57 号： 1 ページ： 108-118 発行年： 2010年01月
JST資料番号： C0222A ISSN： 0018-9383 CODEN： IETDAI 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 文献レビュー 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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