文献
J-GLOBAL ID:201002255725580127
整理番号:10A0847845
P型珪素中のクロム点欠陥の撮像
Imaging of chromium point defects in p-type silicon
著者 (3件):
HABENICHT Holger
(Fraunhofer Inst. for Solar Energy Systems (ISE), Heidenhofstr. 2, D-79110 Freiburg, DEU)
,
SCHUBERT Martin C.
(Fraunhofer Inst. for Solar Energy Systems (ISE), Heidenhofstr. 2, D-79110 Freiburg, DEU)
,
WARTA Wilhelm
(Fraunhofer Inst. for Solar Energy Systems (ISE), Heidenhofstr. 2, D-79110 Freiburg, DEU)
資料名:
Journal of Applied Physics
(Journal of Applied Physics)
巻:
108
号:
3
ページ:
034909
発行年:
2010年08月01日
JST資料番号:
C0266A
ISSN:
0021-8979
CODEN:
JAPIAU
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)