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文献
J-GLOBAL ID：201002255870340290
整理番号：10A0176404
電界下でのペロブスカイト型酸化物薄膜の水素原子の挙動
Behavior of hydrogen atoms in perovskite-type oxide thin films under electric fields
MORITO K.
(Taiyo Yuden Co. Ltd., Gunma, JPN)
,
SUZUKI T.
(Taiyo Yuden Co. Ltd., Gunma, JPN)
,
MIZUNO Y.
(Taiyo Yuden Co. Ltd., Gunma, JPN)
,
SAKAGUCHI I.
(National Inst. Materials Sci., Ibaraki, JPN)
,
OHASHI N.
(National Inst. Materials Sci., Ibaraki, JPN)
,
OHASHI N.
(Kyushu Univ., Fukuoka, JPN)
,
MATSUMOTO K.
(National Inst. Materials Sci., Ibaraki, JPN)
,
MATSUMOTO K.
(Kyushu Univ., Fukuoka, JPN)
,
HANEDA H.
(National Inst. Materials Sci., Ibaraki, JPN)
,
HANEDA H.
(Kyushu Univ., Fukuoka, JPN)
資料名：
Key Engineering Materials
(Key Engineering Materials)
巻： 421/422 ページ： 281-284 発行年： 2010年
JST資料番号： D0744C ISSN： 1013-9826 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： スイス (CHE) 言語： 英語 (EN)
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