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文献
J-GLOBAL ID:201002258234555464   整理番号:10A0786199

SOIに均一にドープされたPタイプ抵抗の温度係数の実験的検証

Experimental verification of temperature coefficients of resistance for uniformly doped P-type resistors in SOI
著者 (12件):
OLSZACKI M
(LAAS, CNRS, Toulouse, FRA)
OLSZACKI M
(Univ. de Toulouse, Toulouse, FRA)
OLSZACKI M
(DMCS, Lodz, POL)
MAJ C
(LAAS, CNRS, Toulouse, FRA)
MAJ C
(Univ. de Toulouse, Toulouse, FRA)
MAJ C
(DMCS, Lodz, POL)
BAHRI M Al
(LAAS, CNRS, Toulouse, FRA)
MARROT J-C
(LAAS, CNRS, Toulouse, FRA)
BOUKABACHE A
(LAAS, CNRS, Toulouse, FRA)
BOUKABACHE A
(Univ. de Toulouse, Toulouse, FRA)
PONS P
(LAAS, CNRS, Toulouse, FRA)
NAPIERALSKI A
(DMCS, Lodz, POL)

資料名:
Journal of Micromechanics and Microengineering  (Journal of Micromechanics and Microengineering)

巻: 20  号:ページ: 064008,1-6  発行年: 2010年06月 
JST資料番号: W1424A  ISSN: 0960-1317  CODEN: JMMIEZ  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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