文献
J-GLOBAL ID:201002258234555464
整理番号:10A0786199
SOIに均一にドープされたPタイプ抵抗の温度係数の実験的検証
Experimental verification of temperature coefficients of resistance for uniformly doped P-type resistors in SOI
著者 (12件):
OLSZACKI M
(LAAS, CNRS, Toulouse, FRA)
,
OLSZACKI M
(Univ. de Toulouse, Toulouse, FRA)
,
OLSZACKI M
(DMCS, Lodz, POL)
,
MAJ C
(LAAS, CNRS, Toulouse, FRA)
,
MAJ C
(Univ. de Toulouse, Toulouse, FRA)
,
MAJ C
(DMCS, Lodz, POL)
,
BAHRI M Al
(LAAS, CNRS, Toulouse, FRA)
,
MARROT J-C
(LAAS, CNRS, Toulouse, FRA)
,
BOUKABACHE A
(LAAS, CNRS, Toulouse, FRA)
,
BOUKABACHE A
(Univ. de Toulouse, Toulouse, FRA)
,
PONS P
(LAAS, CNRS, Toulouse, FRA)
,
NAPIERALSKI A
(DMCS, Lodz, POL)
資料名:
Journal of Micromechanics and Microengineering
(Journal of Micromechanics and Microengineering)
巻:
20
号:
6
ページ:
064008,1-6
発行年:
2010年06月
JST資料番号:
W1424A
ISSN:
0960-1317
CODEN:
JMMIEZ
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)