文献
J-GLOBAL ID:201002259883374254
整理番号:10A0176363
外部電界印加による交換バイアスチューニングで(La,Sr)MnO3薄膜の抵抗変化
Resistance Changes of (La,Sr)MnO3 Thin Film via Exchange Bias Tuning by the Application of an External Electric Field
著者 (4件):
YOKOTA Takeshi
(Nagoya Inst. Technol., Nagoya, JPN)
,
MURATA Shotaro
(Nagoya Inst. Technol., Nagoya, JPN)
,
KITO Sinya
(Nagoya Inst. Technol., Nagoya, JPN)
,
GOMI Manabu
(Nagoya Inst. Technol., Nagoya, JPN)
資料名:
Key Engineering Materials
(Key Engineering Materials)
巻:
421/422
ページ:
107-110
発行年:
2010年
JST資料番号:
D0744C
ISSN:
1013-9826
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
スイス (CHE)
言語:
英語 (EN)