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文献
J-GLOBAL ID：201002260872434121
整理番号：10A1012997
チップに取付けた先端(tip-on-chip)を使った原子間力顕微鏡法画像化 統合近接場ナノツールへのドアを開ける
Atomic force microscopy imaging using a tip-on-chip: Opening the door to integrated near field nanotools
HAYTON J.
(UMR 5819 SPrAM (CEA-CNRS-UJF), CEA-Grenoble, INAC, 17 Rue des Martyrs, 38054 Grenoble Cedex 9, FRA)
,
POLESEL-MARIS J.
(CEA-Saclay, DSM-IRAMIS-SPCSI, FR-91191 Gif sur Yvette, FRA)
,
DEMADRILLE R.
(UMR 5819 SPrAM (CEA-CNRS-UJF), CEA-Grenoble, INAC, 17 Rue des Martyrs, 38054 Grenoble Cedex 9, FRA)
,
BRUN M.
(CEA-Grenoble LETI-MINATEC, 17 Rue des Martyrs, 38054 Grenoble Cedex 9, FRA)
,
THOYER F.
(CEA-Saclay, DSM-IRAMIS-SPCSI, FR-91191 Gif sur Yvette, FRA)
,
LUBIN C.
(CEA-Saclay, DSM-IRAMIS-SPCSI, FR-91191 Gif sur Yvette, FRA)
,
COUSTY J.
(CEA-Saclay, DSM-IRAMIS-SPCSI, FR-91191 Gif sur Yvette, FRA)
,
GREVIN B.
(UMR 5819 SPrAM (CEA-CNRS-UJF), CEA-Grenoble, INAC, 17 Rue des Martyrs, 38054 Grenoble Cedex 9, FRA)
資料名：
Review of Scientific Instruments
(Review of Scientific Instruments)
巻： 81 号： 9 ページ： 093707 発行年： 2010年09月
JST資料番号： D0517A ISSN： 0034-6748 CODEN： RSINAK 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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