文献
J-GLOBAL ID:201002262568928161
整理番号:10A0041854
差分読出し能力を有するソフトエラー耐性10トランジスタSRAMビットセル
A Soft Error Tolerant 10T SRAM Bit-Cell With Differential Read Capability
著者 (3件):
JAHINUZZAMAN Shah M.
(Concordia Univ., QC, CAN)
,
RENNIE David J.
(Univ. Waterloo, ON, CAN)
,
SACHDEV Manoj
(Univ. Waterloo, ON, CAN)
資料名:
IEEE Transactions on Nuclear Science
(IEEE Transactions on Nuclear Science)
巻:
56
号:
6,Pt.2
ページ:
3768-3773
発行年:
2009年12月
JST資料番号:
C0235A
ISSN:
0018-9499
CODEN:
IETNAE
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)