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文献
J-GLOBAL ID:201002266609064814   整理番号:10A0265964

K中間子3He原子のX線精密分光実験に用いるシリコンドリフト検出器の性能評価

著者 (40件):
橋本直
(東大 理)
佐藤将春
(東大 理)
鈴木隆敏
(東大 理)
SHI H.
(東大 理)
竜野秀行
(東大 理)
早野龍五
(東大 理)
藤原裕也
(東大 理)
山崎敏光
(理研)
飯尾雅実
(理研)
板橋健太
(理研)
岩崎雅彦
(理研)
應田治彦
(理研)
大西宏明
(理研)
佐久間史典
(理研)
塚田暁
(理研)
友野大
(理研)
石元茂
(KEK)
関本美知子
(KEK)
豊田晃久
(KEK)
平岩聡彦
(京大 理)
藤岡宏之
(京大 理)
松田恭幸
(東大 教養)
井上謙太郎
(大阪大)
榎本瞬
(大阪大)
野海博之
(大阪大)
康寛史
(東京工大 理工)
徳田真
(東京工大 理工)
谷田聖
(ソウル国立大)
BHANG H.
(ソウル国立大)
CHOI S.
(ソウル国立大)
石渡智一
(SMI)
CARGNELLI M.
(SMI)
KIENLE P.
(SMI)
KIENLE P.
(ミュンヘン工大)
MARTON J.
(SMI)
WIDMANN J.
(SMI)
WUNSCHEK B.
(SMI)
ZMESKAL J.
(SMI)
岡田信二
(INFN-LNF)
CURCEANU C.
(INFN-LNF)

資料名:
日本物理学会講演概要集  (日本物理学会年次大会講演概要集)

巻: 65  号: 1 第1分冊  ページ: 76  発行年: 2010年03月01日 
JST資料番号: S0671B  ISSN: 1342-8349  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 短報  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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