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文献
J-GLOBAL ID：201002268208750890
整理番号：10A0826241
ナノメートル設計Al/SiC周期的多重層: 多重法アプローチによるキャラクタリゼーション
Nanometer-designed Al/SiC periodic multilayers: characterization by a multi-technique approach
GALTAYRIES A.
(Ecole Nationale Superieure de Chimie de Paris, Paris, FRA)
,
HU M.-H.
(Univ. Pierre et Marie Curie, Paris, FRA)
,
LE GUEN K.
(Univ. Pierre et Marie Curie, Paris, FRA)
,
ANDRE J.-M.
(Univ. Pierre et Marie Curie, Paris, FRA)
,
JONNARD P.
(Univ. Pierre et Marie Curie, Paris, FRA)
,
MELTCHAKOV E.
(Univ. de Paris-Sud, Palaiseau, FRA)
,
HECQUET C.
(Univ. de Paris-Sud, Palaiseau, FRA)
,
DELMOTTE F.
(Univ. de Paris-Sud, Palaiseau, FRA)
資料名：
Surface and Interface Analysis
(Surface and Interface Analysis)
巻： 42 号： 6/7 ページ： 653-657 発行年： 2010年06月
JST資料番号： E0709A ISSN： 0142-2421 CODEN： SIANDQ 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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