文献
J-GLOBAL ID:201002269503405450
整理番号:10A0918796
Fano共鳴によるシリコン中のサブミクロン解像度キャリア寿命解析
Submicron resolution carrier lifetime analysis in silicon with Fano resonances
著者 (6件):
GUNDEL Paul
(Fraunhofer Inst. Solar Energy Systems (ISE), Freiburg, DEU)
,
SCHUBERT Martin C.
(Fraunhofer Inst. Solar Energy Systems (ISE), Freiburg, DEU)
,
HEINZ Friedemann D.
(Fraunhofer Inst. Solar Energy Systems (ISE), Freiburg, DEU)
,
BENICK Jan
(Fraunhofer Inst. Solar Energy Systems (ISE), Freiburg, DEU)
,
ZIZAK Ivo
(Helmholtz-Zentrum Berlin BESSY II, Berlin, DEU)
,
WARTA Wilhelm
(Fraunhofer Inst. Solar Energy Systems (ISE), Freiburg, DEU)
資料名:
Physica Status Solidi. Rapid Research Letters
(Physica Status Solidi. Rapid Research Letters)
巻:
4
号:
7
ページ:
160-162
発行年:
2010年07月
JST資料番号:
W1880A
ISSN:
1862-6254
資料種別:
逐次刊行物 (A)
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)