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文献
J-GLOBAL ID:201002270432601919   整理番号:10A0582295

電子ビーム蒸着YSZ薄膜の結晶化と微細構造に及ぼす基板温度の影響

Effects of substrate temperatures on the crystallizations and microstructures of electron beam evaporation YSZ thin films
著者 (4件):
HUANG Hong-hsin
(Dep. of Electrical Engineering, Cheng Shiu Univ., Kaohsiung, Taiwan, TWN)
DIAO Chien-chen
(Dep. of Electronic Engineering, Kao Yuan Univ., Kaohsiung, Taiwan, TWN)
YANG Cheng-fu
(Dep. of Chemical and Materials Engineering, National Univ. of Kaohsiung, Kaohsiung, Taiwan, TWN)
HUANG Chien-jung
(Dep. of Applied Physics, National Univ. of Kaohsiung, Kaohsiung, Taiwan, TWN)

資料名:
Journal of Alloys and Compounds  (Journal of Alloys and Compounds)

巻: 500  号:ページ: 82-86  発行年: 2010年06月18日 
JST資料番号: D0083A  ISSN: 0925-8388  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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