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文献
J-GLOBAL ID：201002271881619608
整理番号：10A0776343
μ-Raman分光法を用いた二重層グラフェン中のエッジ純度の決定
Determination of edge purity in bilayer graphene using μ-Raman spectroscopy
BEGLIARBEKOV Milan
(Dep. of Physics and Engineering Physics, Stevens Inst. of Technol., Hoboken, New Jersey 07030, USA)
,
SUL Onejae
(Dep. of Mechanical Engineering, Stevens Inst. of Technol., Hoboken, New Jersey 07030, USA)
,
KALLIAKOS Sokratis
(Dep. of Physics and Engineering Physics, Stevens Inst. of Technol., Hoboken, New Jersey 07030, USA)
,
YANG Eui-hyeok
(Dep. of Mechanical Engineering, Stevens Inst. of Technol., Hoboken, New Jersey 07030, USA)
,
STRAUF Stefan
(Dep. of Physics and Engineering Physics, Stevens Inst. of Technol., Hoboken, New Jersey 07030, USA)
資料名：
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻： 97 号： 3 ページ： 031908 発行年： 2010年07月19日
JST資料番号： H0613A ISSN： 0003-6951 CODEN： APPLAB 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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