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文献
J-GLOBAL ID：201002272061367937
整理番号：10A0847380
直流4端子法による固体Sb2Te3の電気抵抗率の高精度測定とその温度依存性
小池美矢子
(東京工大 工)
,
遠藤理恵
(東京工大 大学院理工学研究科)
,
小林能直
(東京工大 大学院理工学研究科)
,
須佐匡裕
(東京工大 大学院理工学研究科)
,
桑原正史
(産業技術総合研)
資料名：
材料とプロセス(CD-ROM)
(Current Advances in Materials and Processes (CD-ROM))
巻： 23 号： 1 ページ： ROMBUNNO.PS-12 発行年： 2010年03月01日
JST資料番号： X0994B ISSN： 1882-8922 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報 発行国： 日本 (JPN) 言語： 日本語 (JA)
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