文献
J-GLOBAL ID:201002272243204618
整理番号:10A0414134
六方晶グラファイト積層不規則度のX線回折による新規な決定法
Novel method for determining stacking disorder degree in hexagonal graphite by X-ray diffraction
著者 (3件):
LI Hui
(Shanghai Shanshan Tech. Co., Ltd., Shanghai)
,
YANG ChuanZheng
(Shanghai Inst. of Micro-system and Information Technol., Chinese Acad. of Sciences, Shanghai)
,
LIU Fang
(Shanghai Shanshan Tech. Co., Ltd., Shanghai)
資料名:
Science in China. Series B: Chemistry
(Science in China. Series B: Chemistry)
巻:
52
号:
2
ページ:
174-180
発行年:
2009年
JST資料番号:
C2575A
ISSN:
1006-9291
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
中国 (CHN)
言語:
英語 (EN)