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文献
J-GLOBAL ID:201002272862869128   整理番号:10A0695620

四端子法を用いたSb2Te3とGe2Sb2Te5融液の電気抵抗率測定

Electric Resistivity Measurements of Sb2Te3 and Ge2Sb2Te5 Melts Using Four-Terminal Method
著者 (7件):
ENDO Rie
(Tokyo Inst. of Technol., Tokyo, JPN)
MAEDA Shimpei
(Tokyo Inst. of Technol., Tokyo, JPN)
JINNAI Yuri
(Tokyo Inst. of Technol., Tokyo, JPN)
LAN Rui
(Tokyo Inst. of Technol., Tokyo, JPN)
KUWAHARA Masashi
(National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol., Ibaraki, JPN)
KOBAYASHI Yoshinao
(Tokyo Inst. of Technol., Tokyo, JPN)
SUSA Masahiro
(Tokyo Inst. of Technol., Tokyo, JPN)

資料名:
Japanese Journal of Applied Physics  (Japanese Journal of Applied Physics)

巻: 49  号: 6,Issue 1  ページ: 065802.1-065802.7  発行年: 2010年06月25日 
JST資料番号: G0520B  ISSN: 0021-4922  CODEN: JJAPB6  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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