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文献
J-GLOBAL ID：201002273718560062
整理番号：10A0253610
高感度,高分解能低エネルギーイオン散乱
High-sensitivity and high-resolution low-energy ion scattering
BRONGERSMA Hidde H.
(Calipso B.V., P.O. Box 513, 5600 MB Eindhoven, NLD)
,
BRONGERSMA Hidde H.
(ION-TOF GmbH, Heisenbergstr. 15, 48149 Muenster, DEU)
,
BRONGERSMA Hidde H.
(Tascon GmbH, Heisenbergstr. 15, 48149 Muenster, DEU)
,
GREHL Thomas
(ION-TOF GmbH, Heisenbergstr. 15, 48149 Muenster, DEU)
,
VAN HAL Paul A.
(Philips Res. Laboratories, High Tech Campus 4, 5656 AE Eindhoven, NLD)
,
KUIJPERS Niels C.W.
(Calipso B.V., P.O. Box 513, 5600 MB Eindhoven, NLD)
,
MATHIJSSEN Simon G.J.
(Philips Res. Laboratories, High Tech Campus 4, 5656 AE Eindhoven, NLD)
,
SCHOFIELD Emma R.
(Johnson Matthey Technol. Centre, Blount’s Court Road, Sonning Common, Reading RG4 9NH, GBR)
,
SMITH Richard A.P.
(Johnson Matthey Technol. Centre, Blount’s Court Road, Sonning Common, Reading RG4 9NH, GBR)
,
TER VEEN Hendrik R.J.
(Tascon GmbH, Heisenbergstr. 15, 48149 Muenster, DEU)
資料名：
Vacuum
(Vacuum)
巻： 84 号： 8 ページ： 1005-1007 発行年： 2010年03月24日
JST資料番号： E0347A ISSN： 0042-207X 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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