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文献
J-GLOBAL ID：201002273966711069
整理番号：10A1151615
45nm CMOSによる2.4GHz 7mW 全ディジタルでPVT変動に強いトルー乱数発生器
2.4GHz 7mW All-Digital PVT-Variation Tolerant True Random Number Generator in 45nm CMOS
SRINIVASAN Suresh
(Intel Corp., OR, USA)
,
MATHEW Sanu
(Intel Corp., OR, USA)
,
RAMANARAYANAN Rajaraman
(Intel Corp., OR, USA)
,
SHEIKH Farhana
(Intel Corp., OR, USA)
,
ANDERS Mark
(Intel Corp., OR, USA)
,
KAUL Himanshu
(Intel Corp., OR, USA)
,
ERRAGUNTLA Vasantha
(Intel Corp., OR, USA)
,
KRISHNAMURTHY Ram
(Intel Corp., OR, USA)
,
TAYLOR Greg
(Intel Corp., OR, USA)
資料名：
Digest of Technical Papers. Symposium on VLSI Circuits
(Digest of Technical Papers. Symposium on VLSI Circuits)
巻： 2010 ページ： 161-162 発行年： 2010年
JST資料番号： W0767A ISSN： 2158-5601 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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