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文献
J-GLOBAL ID：201002274936090457
整理番号：10A0952759
ELPHでの第2GeVタッグ付き光子ビームライン
The second GeV tagged photon beamline at ELPH
ISHIKAWA T.
(Res. Center for Electron Photon Sci. (ELPH), Tohoku Univ., Sendai 982-0826, JPN)
,
FUJIMURA H.
(Res. Center for Electron Photon Sci. (ELPH), Tohoku Univ., Sendai 982-0826, JPN)
,
HASHIMOTO R.
(Res. Center for Electron Photon Sci. (ELPH), Tohoku Univ., Sendai 982-0826, JPN)
,
ISHIDA T.
(Res. Center for Electron Photon Sci. (ELPH), Tohoku Univ., Sendai 982-0826, JPN)
,
KASAGI J.
(Res. Center for Electron Photon Sci. (ELPH), Tohoku Univ., Sendai 982-0826, JPN)
,
KINOSHITA T.
(Res. Center for Electron Photon Sci. (ELPH), Tohoku Univ., Sendai 982-0826, JPN)
,
KUWASAKI S.
(Res. Center for Electron Photon Sci. (ELPH), Tohoku Univ., Sendai 982-0826, JPN)
,
MIYAHARA F.
(Res. Center for Electron Photon Sci. (ELPH), Tohoku Univ., Sendai 982-0826, JPN)
,
MIYAMOTO A.
(Res. Center for Electron Photon Sci. (ELPH), Tohoku Univ., Sendai 982-0826, JPN)
,
MOCHIZUKI K.
(Res. Center for Electron Photon Sci. (ELPH), Tohoku Univ., Sendai 982-0826, JPN)
,
NAKABAYASHI T.
(Res. Center for Electron Photon Sci. (ELPH), Tohoku Univ., Sendai 982-0826, JPN)
,
NANAO M.
(Res. Center for Electron Photon Sci. (ELPH), Tohoku Univ., Sendai 982-0826, JPN)
,
NAWA K.
(Res. Center for Electron Photon Sci. (ELPH), Tohoku Univ., Sendai 982-0826, JPN)
,
OKADA Y.
(Res. Center for Electron Photon Sci. (ELPH), Tohoku Univ., Sendai 982-0826, JPN)
,
OKAMURA K.
(Res. Center for Electron Photon Sci. (ELPH), Tohoku Univ., Sendai 982-0826, JPN)
,
ONODERA Y.
(Res. Center for Electron Photon Sci. (ELPH), Tohoku Univ., Sendai 982-0826, JPN)
,
SAITO Y.
(Res. Center for Electron Photon Sci. (ELPH), Tohoku Univ., Sendai 982-0826, JPN)
,
SATOU K.
(Res. Center for Electron Photon Sci. (ELPH), Tohoku Univ., Sendai 982-0826, JPN)
,
SENGOKU M.
(Res. Center for Electron Photon Sci. (ELPH), Tohoku Univ., Sendai 982-0826, JPN)
,
SHIMIZU H.
(Res. Center for Electron Photon Sci. (ELPH), Tohoku Univ., Sendai 982-0826, JPN)
,
SUZUKI K.
(Res. Center for Electron Photon Sci. (ELPH), Tohoku Univ., Sendai 982-0826, JPN)
,
SUZUKI S.
(Res. Center for Electron Photon Sci. (ELPH), Tohoku Univ., Sendai 982-0826, JPN)
,
TAJIMA Y.
(Dep. of Physics, Yamagata Univ., Yamagata 990-8560, JPN)
,
TAKAHASHI T.
(Dep. of Physics, Tohoku Univ., Sendai 980-8578, JPN)
,
YAMAZAKI H.
(Res. Center for Electron Photon Sci. (ELPH), Tohoku Univ., Sendai 982-0826, JPN)
,
YONEMURA H.
(Res. Center for Electron Photon Sci. (ELPH), Tohoku Univ., Sendai 982-0826, JPN)
,
YOSHIDA H.y.
(Dep. of Physics, Yamagata Univ., Yamagata 990-8560, JPN)
資料名：
Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section A. Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment
(Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section A. Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment)
巻： 622 号： 1 ページ： 1-10 発行年： 2010年10月01日
JST資料番号： D0208B ISSN： 0168-9002 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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