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文献
J-GLOBAL ID：201002275034541070
整理番号：10A0602772
形状制御ナノ粒子のフォーカスド硬X線回折顕微鏡による三次元電子密度マッピング
Three-Dimensional Electron Density Mapping of Shape-Controlled Nanoparticle by Focused Hard X-ray Diffraction Microscopy
TAKAHASHI Yukio
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
ZETTSU Nobuyuki
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
NISHINO Yoshinori
(Hokkaido Univ., Sapporo, JPN)
,
TSUTSUMI Ryosuke
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
MATSUBARA Eiichiro
(Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
,
ISHIKAWA Tetsuya
(RIKEN, Hyogo, JPN)
,
YAMAUCHI Kazuto
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
資料名：
Nano Letters
(Nano Letters)
巻： 10 号： 5 ページ： 1922-1926 発行年： 2010年05月
JST資料番号： W1332A ISSN： 1530-6984 CODEN： NALEFD 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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